高加速測試

高加速測試是一種對電子和機械裝配件利用快速高、低溫變換的蕩體系來揭示設(shè)計缺略和不足的過程。HALT的目的是在產(chǎn)品開發(fā)的早期階段識別出產(chǎn)品的功能和破壞極限，從而優(yōu)化產(chǎn)品的可靠性。

適用領(lǐng)域:1、計算機類:電腦、顯示屏、主機、電腦元器件、醫(yī)療設(shè)備等精密儀器等,

2、電子通信類:手機、射頻器、電子通信元器件等;

3、電器類:家電、燈具、變電器等各類家電電器設(shè)備;

4、其他:包裝箱、運輸設(shè)備等;

依據(jù)標準

高溫測試:GB/T 2423.2 IEC 60068-2-2

低溫測試:GB/T 2423.1 IEC 60068-2-1 EIA-364-59

快速溫變測試:GB/T 2423.22IEC60068-2-14

冷熱沖擊測試:GB/T 2423.22IEC60068-2-14 EIA-364-32恒溫恒濕測試:GB/T 2423.3 IEC 60068-2-78 MIL-STD-202

溫度變化測試:GB/T 2423.22 IEC60068-2-14

交變濕熱:GB/T 2423.4 IEC 60068-2-30溫濕度組合循環(huán)測試:GB/T2423.34IEC60068-2-38 MIL-STD-202TB/T 2054-2017機車淋雨試驗方法