反光片檢測(cè)

檢測(cè)項(xiàng)目

厚度偏差、薄膜表面質(zhì)量檢測(cè)、膜卷外觀檢測(cè)、寬度偏差、接頭數(shù)目、每段長(zhǎng)度、防腐蝕性能、氣相緩蝕能力、接觸腐蝕能力、與銅的相容性、交變濕熱試驗(yàn)等。  

檢測(cè)范圍

鏡面反燈光片、晶格反燈光片、納米反燈光片、自行車反燈光片、塑料反燈光片。  

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

 GB/T 26068-2018 硅片和硅錠載流子復(fù)合壽命的測(cè)試 非接觸微波反射光電導(dǎo)衰減法  

GB/T 40279-2021 硅片表面薄膜厚度的測(cè)試 光學(xué)反射法  

GB/T 24578-2015 硅片表面金屬沾污的全反射X光熒光光譜測(cè)試方法  

GB/T 30701-2014 表面化學(xué)分析 硅片工作標(biāo)準(zhǔn)樣品表面元素的化學(xué)收集方法和全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測(cè)定

 GB/T 40110-2021 表面化學(xué)分析 全反射X射線熒光光譜法(TXRF)測(cè)定硅片表面元素污染  

GB/T 26070-2010 化合物半導(dǎo)體拋光晶片亞表面損傷的反射差分譜測(cè)試方法  

HG/T 4360-2012 電影 黑白光學(xué)聲音底片和高反差正片 感光度測(cè)定方法  

GB/T 17169-1997 硅拋光片和外延片表面質(zhì)量光反射測(cè)試方法