ITE 信息技術(shù)設(shè)備InformationTechnology Equipment其主要功能為能對數(shù)據(jù)和電信消息進(jìn)行錄入、存儲、顯示、檢索、傳遞、處理、交換或控制（或幾種功能的組合），設(shè)備可以配置一個或多個通常用于信息傳遞的終端端口；其額定電壓不超過600V。
常見的ITE產(chǎn)品 ITE包括數(shù)據(jù)處理設(shè)備、辦公設(shè)備、電子商用設(shè)備、電信設(shè)備等。 如：個人電腦、筆記本電腦、平板電腦、鼠標(biāo)、鍵盤、顯示器、一體機、打印機、投影儀、路由器、掃描儀、U盤、移動硬盤、各種電腦周邊及配件等。
歐盟CE認(rèn)證 檢測標(biāo)準(zhǔn)：E55022，EN55024，EN61000-3-2，EN61000-3-3
電磁兼容指令：2004/108/EC
檢測項目EMI部分：項目 頻車范圍
標(biāo)準(zhǔn) ：電源端傳導(dǎo)（CE） 0.15~300MHz EN55022 電信端傳導(dǎo)（ISN） 0.15~300MHz EN55022 空間福射（RE） 300Hz~66GHz EN55022 如產(chǎn)品內(nèi)部源的最高頻率低于106/0Hz，測量進(jìn)行到1GHz 如產(chǎn)品內(nèi)部源的最高頻率在1080/0Hz50000tz之間，則量進(jìn)行到2GHz 如產(chǎn)品內(nèi)部源的最高頻率在5000Hz~1GHz之間，測量進(jìn)行至到5GHz 如產(chǎn)品內(nèi)部源的最高頻率高于16Hz，測量進(jìn)行到最高頻率的5倍或66Hz，取兩者中的小者
電流諧波（Harmonic） 標(biāo)準(zhǔn)：
EN61000-3-2 額定電壓范圍為AC220~240V 產(chǎn)品需進(jìn)行此項目測試 額定功率75W及以下 產(chǎn)品無限值規(guī)定，無需測試
電壓波動、閃爍（Plicker） 標(biāo)準(zhǔn)：
EN61000-3-3 額定電壓范圍為AC220~240V 產(chǎn)品需進(jìn)行此項目測試 限值要求： 短期閃嬌值Pst≤1.0 長期閃嬌值P1t≤0.65 相對穩(wěn)態(tài)電壓變化dc≤3.3% 最大相應(yīng)電壓變化nax≤4% 檢測項目EMS部分：
靜電抗擾度（ESD） 標(biāo)準(zhǔn)：
EN55024（引用IEC61000-4-2）；性能判據(jù)：A 接觸放電：±4kV：每個放電點各極性25次 空氣放電：±8kV；每個放電點各極性10次
輻射抗擾度（RS） 標(biāo)準(zhǔn)：
EN55024（引用IEC61000-4-3）；性能判據(jù)：A 頻率范圍：80~100000Hz 頻率范圍：80~100000Hz
電快速瞬變脈沖群（EFT） 標(biāo)準(zhǔn)：
EN55024（引用IEC61000-4-4）性能判據(jù)：B 試驗規(guī)范： AC電源輸入端：1kV；重復(fù)頻率5kHz DC電源輸入端：0.5kV；重復(fù)頻率5kHz 信號端口和電信端口：0.5kV；重復(fù)頻率5kHz 連接到由制造商規(guī)定的預(yù)期長度不超過3m的數(shù)據(jù)電纜的接口端口不需進(jìn)行此項測試
雷擊抗擾度 (Surge) 標(biāo)準(zhǔn)
EN55024 (引用IEC61000-4-5 ITU-T K20、K21、K22) 性能判據(jù) B 試驗規(guī)范： AC輸入端：1.2/50(8/20)組合波；線-線：1kV ; 線-地：2kV DC輸入端：1.2/50(8/20)組合波；0.5kV 僅適用于根據(jù)制造商規(guī)范可能直接與室外電纜連接的端口 信號端口和電信端口：10/700 波形；1kV or 4kV 僅適用于根據(jù)制造商規(guī)范可能直接與室外電纜連接的端口；如果端口按要求設(shè)置了第一級保護(hù)，則試驗時應(yīng)施加 4kV電壓到所設(shè)置的保護(hù)器；否則，對無保護(hù)器的端口施加1kV的試驗電壓。 傳導(dǎo)抗擾度（CS） 工頻磁場抗擾度（MS） 電壓跌落、短時中斷抗擾度(Dips)
EMS性能判據(jù)
性能判據(jù)A： 無需操作人員介入，設(shè)備應(yīng)能按預(yù)期持續(xù)工作。當(dāng)按預(yù)期使用設(shè)備時，不允許出現(xiàn)低于制造商規(guī)定的性能等級的性能降級或功能損失?？梢杂迷试S的性能降低來替代性能等級。如果制造商不規(guī)定最低性能等級和允許的性能降低，則可從產(chǎn)品說明書或技術(shù)文件中得知，并且用戶有理由要求所使用的設(shè)備達(dá)到此規(guī)定。
性能判據(jù)B： 在試驗開始之后，無需操作人員介入，設(shè)備應(yīng)能繼續(xù)按預(yù)期工作。當(dāng)按預(yù)期使用設(shè)備時，在施加騷擾之后，不允許出現(xiàn)低于制造商規(guī)定的性能降級或功能損失?？梢杂迷试S的性能降低來代替性能等級。在試驗期間，性能降級是允許的。然而在試驗之后，工作狀態(tài)不應(yīng)改變，儲存的數(shù)據(jù)不應(yīng)丟失。如果制造商不規(guī)定最低性能等級和允許的性能降低，則可從產(chǎn)品說明書或技術(shù)文件中得知，并且用戶有理由要求所使用的設(shè)備達(dá)到此規(guī)定。
性能判據(jù)C： 允許出現(xiàn)可自行恢復(fù)或能由使用者根據(jù)制造廠說明操作之后使其恢復(fù)的功能損失。 存儲在非易失性存儲器內(nèi)的或由備用電池保護(hù)的功能和（或）信息不應(yīng)丟失。
關(guān)于檢測服務(wù)
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